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AEC-Q102湿度敏感品级试验:探索电子元器件耐潮性能

文章来源 : 广东伟德国际1949检测 宣布时间:2023-08-28 浏览数量:

元器件AEC-Q102认证湿度敏感品级试验

湿度,作为一个在电子系统中连续保存的问题,经常令人头疼。不管是在炎热湿润的热带地区,照旧在多湿的运输情况下,湿度都会显著增加电子工业的本钱开支。

随着湿度敏感元器件的广泛应用,人们关于潜在失效机制的认识越发重视。然而,即便了解失效的原理,要从基础上规避危害仍需确认元器件所属的湿敏品级,然后再进行适当的封装、贮存和预处理等。

确认元器件的湿敏品级是一项相当庞大的任务,因为差别质料(如支架、胶水和芯片)的组合可能导致湿敏品级的差别。因此,在实际应用中,经常通过测试来确认元器件的湿敏品级。

AEC-Q102认证要求的湿度敏感品级试验主要应用于LED光电半导体分立器件,以下是试验的配景、要领和标准概述:


分立光电半导体AEC-Q102认证.jpg


试验配景:

封装接触回流焊高温后,非密封封装内的蒸汽压力显著升高。在某些情况下,这种压力可能导致元器件内部爆裂、焊点破损、接线断裂、焊点上升、内部?樯仙约氨∧た。最严重情况下,甚至可能导致封装外部泛起裂缝,形成所谓的“爆米花”现象。


试验要领:

1. 取样:关于每个品级,至少测试22个样品,如果需要在n个品级上同时测试,则样品数量为n*22个;需要包括至少两个差别时间批次的灯珠。

2. 纪录试验前数据:对每个样品进行光电参数测试,包括正向电压、光通量、反向漏电流、色坐标、主波长等。若保存异常数据,则需要重新取样;纪录每个样品的外观并拍照,如有异常外观,需重新取样;进行声学显微镜扫描测试,如灯珠内部保存分层现象,需重新取样。

3. 恒温恒湿试验和回流焊试验:

- 前处理:将样品烘烤于125~130℃下至少24小时;

- 湿气渗透(恒温恒湿存储):凭据差别品级,在表1中选择相应的温湿度和时间;

- 回流焊:将样品从恒温恒湿箱中取出后,在不短于15分钟、不长于4小时的时间内,通过台式回流焊机对样品进行三次回流焊,回流焊间隔时间介于5分钟至60分钟之间。

注:需确定样品是否适合无铅或有铅焊接,LED灯珠建议选择无铅焊接(260℃)。

4. 纪录试验后数据:测试每个样品的光电参数,包括正向电压、光通量、反向漏电流、色坐标、主波长;纪录每个样品的外观并拍照;进行声学显微镜扫描测试。

5. 不良标准判定:如试验样品泛起以下情况之一,被视为未通过该品级试验,需要降低一个品级后再次进行试验:

- 在光学显微镜下视察到裂缝或分层;

- 光电参数变革凌驾AEC-Q102、IEC60810或客户指定的规模;

- 声学显微镜扫描测试泛起分层。


主要测试标准:

- IPC/JEDEC J-STD-020D.1:非密封固态外貌贴装元件的湿度/回流焊敏感性分类标准。

- IPC/JEDEC J-STD-035:用于非密封装电子元件的声学显微镜标准。

- SJ/T 11394-2009:半导体发光二极管的测试要领标准。


本试验旨在确保切合AEC-Q102标准的光电半导体器件(如LED、激光组件、光电二极管等)的质量和可靠性。通过这些测试,可以有效地评估器件的湿度敏感品级,为其在差别应用情况下的稳定性提供包管。


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