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文章来源 : 广东伟德国际1949检测 宣布时间：2023-08-24 浏览数量：
电子元器件可靠性试验是电子设备可靠性的基础 ，电子元器件高温存储试验是将元器件袒露在高温情况中 ，以此来评价元器件在高温事情情况中遇到的运输、贮存、使用情况条件下的性能。
伟德国际1949检测是专业第三方电子元器件情况可靠性试验检测机构 ，实验室具备电子元器件气候情况试验、综合情况试验、机械情况试验检测资质和检测能力 ，可提供电子元器件高温存储试验第三方检测效劳 ，并可出具国家认可的中文或英文检测报告。
电子元器件的失效许多是由于情况温度造成体内和外貌的种种物理、化学变革所引起的。温度升高后 ，使得化学反应速率大大加速 ，其失效历程也获得加速 ，使有缺陷的元器件能实时袒露。
通过提高元器件情况温度 ，加速元器件中可能爆发或保存的任何化学反应历程（如由水汽或其他离子所引起的腐化作用 ，外貌漏电、沾污以及金-铝之间金属化合物的生成等） ，使具有潜在缺陷的元器件提前失效而剔除。
高温贮存试验关于外貌沾污、引线键合不良和氧化层缺陷等都有很好的筛选作用。
高温贮存是在试验箱内模拟高温条件 ，对元器件施加高温应力（不加电应力） ，使得元器件体内和外貌的种种物理、化学变革的化学反应速率大大加速 ，其失效历程也获得加速 ，使有缺陷的元器件能尽早袒露。
高温贮存筛选的特点：
1. 最大的优点是操作简便易行 ，可以大批量进行 ，投资少 ，其筛选效果也不差 ，因而是目前比较普遍接纳的筛选试验项目。
2. 通过高温贮存还可以使元器件的性能参数稳定下来 ，减少使用中的参数漂移 ，故在GJB548中也把高温贮存试验称为稳定性烘焙试验。
3. 关于工艺和设计水平较高的成熟器件 ，由于器件自己已很稳定 ，所以做高温存贮筛选效果很差 ，筛选率险些为零。
元器件的电稳定性、金属化、硅腐化和引线键合缺陷等。
1. 温度-时间应力简直定
在不损害半导体器件的情况下筛选温度越高越好 ，因此应尽可能提高贮存温度。贮存温度需凭据管壳结构、质料性质、组装和密封工艺而定 ，同时还应特别注意温度和时间的合理确定。有一种误解认为温度越高、时间越长筛选考验就越严格 ，这是过失的。确定温度、时间对应关系的原则是：坚持对元器件施加的应力强度不可变 ，即如果提高了贮存温度 ，则应减少贮存时间。
2、高温贮存大都在封装后进行 ，半导体器件也有在封装前的圆片阶段或键合后进行 ，或封装前后都进行。
3、国军标中划定高温贮存试验结束后 ，必须在96 小时内完毕对元器件的测试比照。
1. 专家团队
可靠性检测专家、定制化效劳、专业人员技术培训效劳 ，拥有多名航空、航天电子元器件质量可靠性专组成的专家团队50余人。
2. 专业设备
配备种种规格的集成电路测试系统 ，老炼箱50余台、种种情况箱体20台套、机械性能与可靠性检测设备30台套、半导体分立器件测试系统、模拟器件测试系统、检漏系统、PIND颗粒碰撞检测设备等。
3. 一站式计划效劳
依据客户产品规格 ，准确制定元器件的筛选计划和规程\依据筛选结果 ，准确定位元器件失效机理 ，并依据客户需求给出元器件失效剖析计划。
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军用级检测体系控制+军方实验室认可检测设备 ，包管测试流程和测试精度 ，第三方公正检测机构。
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